21世紀發(fa)展的理(li)想電(dian)(dian)(dian)源。鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池可(ke)廣泛應(ying)用(yong)于 3C 也被稱為手機(ji)、平板電(dian)(dian)(dian)腦(nao)、筆記本(ben)電(dian)(dian)(dian)腦(nao)、可(ke)穿戴設備等(deng)領(ling)域，鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池具(ju)有能量密度高、電(dian)(dian)(dian)壓高、壽命長(chang)、無(wu)記憶效(xiao)應(ying)等(deng)優點，3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池是(shi)容(rong)易因(yin)短路、過(guo)充(chong)等(deng)原因(yin)燒(shao)毀或爆炸，所以(yi)很危(wei)險3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池測(ce)試是(shi)鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池制造和(he)(he)組裝的重要(yao)環節，是(shi)實現鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池性(xing)(xing)能和(he)(he)安全靠譜(pu)使用(yong)的有力保障。3C鋰(li)電(dian)(dian)(dian)池測(ce)試項目主要(yao)包(bao)括一致性(xing)(xing)、功能性(xing)(xing)、安全性(xing)(xing)、可(ke)靠性(xing)(xing)和(he)(he)工況模擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是日韓黃色視頻:pogopin探針模塊(kuai)。通過比較兩者的優缺點，我(wo)們可(ke)以(yi)更直觀(guan)地區分(fen)哪一個更符合要求3C鋰電池測(ce)試要求。

　　從(cong)目前的(de)市場趨勢(shi)來看，3C電子產品內部空間(jian)集成度(du)高，pitch不斷縮小，pogopin探(tan)針(zhen)模組在(zai)小pitch該領(ling)域適應性(xing)差(cha)，只能(neng)處理0.3mm-0.4mm之間(jian)的(de)pitch壽命和穩定(ding)性(xing)差(cha)。3C鋰(li)電池測試對電流的(de)需(xu)求很大，pogopin探(tan)針(zhen)模塊(kuai)能(neng)承載的(de)額定(ding)電流僅為1A，在(zai)傳輸過程中，電流會在(zai)不同位(wei)衰減，導致(zhi)連接(jie)不穩定(ding)。

　　通大電流彈片微針模組

　　通大(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)彈(dan)片微針(zhen)(zhen)模(mo)組無論是(shi)面對小(xiao)間距還是(shi)大(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)，都有(you)很好的(de)應對方法。在(zai)小(xiao)pitch在(zai)該領(ling)域，大(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)彈(dan)片微針(zhen)(zhen)模(mo)塊是(shi)可(ke)取(qu)的(de)pitch值在(zai)0.15mm-0.4mm性能穩(wen)(wen)定(ding)可(ke)靠。面對大(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)測試要求，大(da)電(dian)(dian)流(liu)(liu)彈(dan)片微針(zhen)(zhen)模(mo)塊可(ke)通過的(de)額定(ding)電(dian)(dian)流(liu)(liu)大(da)到50A，在(zai)1-50A電(dian)(dian)阻恒定(ding)，幾乎沒有(you)電(dian)(dian)流(liu)(liu)衰(shuai)減，具有(you)良好的(de)連接(jie)功能，可(ke)以(yi)很大(da)限度地保障3C鋰電(dian)(dian)池測試的(de)穩(wen)(wen)定(ding)性。

　　pogopin探針模組

　　就(jiu)使用壽(shou)命而言，pogopin探(tan)針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)(mo)塊的試(shi)驗壽(shou)命在于5w大電流(liu)彈片微(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)(mo)組(zu)的試(shi)驗壽(shou)命約為(wei)(wei)20w以(yi)上，比較pogopin探(tan)針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)(mo)塊整整多了四倍(bei)!況且pogo pin探(tan)針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)(mo)塊為(wei)(wei)多組(zu)件(jian)結構(gou)，生(sheng)產(chan)(chan)工藝復雜，生(sheng)產(chan)(chan)難度高，交(jiao)貨(huo)(huo)期(qi)長;大電流(liu)彈片微(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)(mo)組(zu)是一(yi)種集成彈片結構(gou)，輕、扁平，可根(gen)據客戶要求定制，生(sheng)產(chan)(chan)難度低，交(jiao)貨(huo)(huo)期(qi)短。相比之下，通大電流(liu)彈片微(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)(mo)組(zu)的成本性(xing)能并不太高!

　　對比(bi)母(mu)座(zuo)測試(shi)良率，pogopin針對探針模塊BTB連接(jie)(jie)器母(mu)座(zuo)幾乎無法實現，穩定性極差。大部分采用(yong)觸(chu)摸方案對應，母(mu)座(zuo)測試(shi)良率不(bu)到(dao)80%;母(mu)座(zuo)上有(you)一(yi)種特別的通大電流彈(dan)片(pian)(pian)微針模組(zu)對應方法。將斜口型(也稱尖頭型)彈(dan)片(pian)(pian)頭插入(ru)連接(jie)(jie)器內端子，以保持一(yi)定的開(kai)度，從而保障彈(dan)片(pian)(pian)的接(jie)(jie)觸(chu)面(mian)和接(jie)(jie)觸(chu)面(mian)BTB連接(jie)(jie)器端子兩側保持接(jie)(jie)觸(chu)狀態(tai)，使測試(shi)穩定，母(mu)座(zuo)測試(shi)良率達到(dao)99.8%。

　　大電流彈片微針模(mo)組測(ce)(ce)試效率(lv)高，穩定性好。與同一產品(pin)測(ce)(ce)試前(qian)后相比(bi)，連接器(qi)基本(ben)上看(kan)不到(dao)刺痕，不會對產品(pin)造(zao)成(cheng)任何損壞pogo pin電池測(ce)(ce)試模(mo)塊更(geng)值得(de)選擇和信(xin)賴(lai)。