我(wo)們常看到的(de)一些3C產品，里(li)面都有安裝鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)，鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)具有高能量密度(du)、高電(dian)壓、壽命長、無(wu)記憶效應(ying)等(deng)優(you)點，是(shi)21世紀發展的(de)理想電(dian)源。鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)可(ke)廣泛應(ying)用于 3C 也(ye)被稱為手機、平(ping)板電(dian)腦、筆記本(ben)電(dian)腦、可(ke)穿戴設備等(deng)領域(yu)3C鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)3C鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)容易(yi)因短路、過(guo)充等(deng)原因燒毀或爆炸，所以很危險3C鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)測(ce)試是(shi)鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)制造和(he)組(zu)裝的(de)重要(yao)環節，是(shi)實(shi)現鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)性能和(he)安全(quan)靠譜(pu)使用的(de)有力保障(zhang)，3C鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)測(ce)試項目主要(yao)包括一致性、功能性、安全(quan)性、靠譜(pu)性和(he)工況(kuang)模擬(ni)。

　　3C鋰電池(chi)測(ce)(ce)試對電池(chi)測(ce)(ce)試模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)的(de)選擇(ze)很重要。目前市場上(shang)廣泛使用的(de)電池(chi)測(ce)(ce)試模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)有兩種(zhong)(zhong)，一(yi)(yi)種(zhong)(zhong)是(shi)(shi)凱智通(tong)大(da)電流(liu)彈片微針模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)，另一(yi)(yi)種(zhong)(zhong)是(shi)(shi)pogo pin探針模(mo)(mo)塊(kuai)(kuai)。通(tong)過(guo)比較(jiao)兩者的(de)優缺點(dian)，我們可以更直觀(guan)地區分哪一(yi)(yi)個更符(fu)合(he)要求3C鋰電池(chi)測(ce)(ce)試要求。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，日韓黃色視頻:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無論面對小(xiao)間距還是大(da)電(dian)流(liu)，大(da)電(dian)流(liu)彈(dan)片微(wei)針模塊都有很(hen)(hen)好的(de)(de)應對方(fang)法。pitch在(zai)該領(ling)域，大(da)電(dian)流(liu)彈(dan)片微(wei)針模塊是可取的(de)(de)pitch值在(zai)0.15mm-0.4mm性能穩定靠譜(pu)。面對大(da)電(dian)流(liu)測試要求，大(da)電(dian)流(liu)彈(dan)片微(wei)針模塊可通過的(de)(de)額定電(dian)流(liu)大(da)到50A，在(zai)1-50A電(dian)阻恒定，幾乎沒有電(dian)流(liu)衰減，具有良好的(de)(de)連(lian)接(jie)功能，可以很(hen)(hen)大(da)限度地保(bao)障3C鋰電(dian)池測試的(de)(de)穩定性。

　　就使用(yong)壽命而言，pogopin探(tan)針模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)的試(shi)驗壽命在于(yu)5w大(da)電(dian)流(liu)彈(dan)片(pian)微(wei)針模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)的試(shi)驗壽命約為(wei)20w以上，比較(jiao)pogopin探(tan)針模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)整整多了四倍！pogopin探(tan)針模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)為(wei)多組件結構，生產(chan)工(gong)藝復雜(za)，生產(chan)難(nan)度(du)高，交貨周期長；大(da)型電(dian)流(liu)彈(dan)片(pian)微(wei)針模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)為(wei)一體化彈(dan)片(pian)結構，輕、扁平，可根據客戶要(yao)求定制，生產(chan)難(nan)度(du)低，交貨周期短。相比之(zhi)下，大(da)型電(dian)流(liu)彈(dan)片(pian)微(wei)針模(mo)(mo)(mo)塊(kuai)的成本性能并不太高！

　　對比母(mu)(mu)(mu)座(zuo)(zuo)測試良(liang)率，pogopin探針(zhen)模組針(zhen)對BTB連接(jie)器母(mu)(mu)(mu)座(zuo)(zuo)幾乎無法實現，穩定(ding)性(xing)極(ji)差。大部分采(cai)用觸(chu)摸(mo)方(fang)案對應，母(mu)(mu)(mu)座(zuo)(zuo)測試良(liang)率不(bu)到80%；母(mu)(mu)(mu)座(zuo)(zuo)上有一種特別(bie)的大電流彈(dan)片(pian)微針(zhen)模塊對應方(fang)法。將斜口型（也稱尖頭型）彈(dan)片(pian)頭插入連接(jie)器內端子，以保(bao)持一定(ding)的開度(du)，從(cong)而(er)保(bao)障彈(dan)片(pian)的接(jie)觸(chu)面和接(jie)觸(chu)面BTB連接(jie)器端子兩(liang)側保(bao)持接(jie)觸(chu)狀態，使測試穩定(ding)，母(mu)(mu)(mu)座(zuo)(zuo)測試良(liang)率高達99.8%。

　
　大電(dian)流彈片(pian)微針模塊測試效率高，穩定性好(hao)。與同一產品測試前后相比(bi)，連接(jie)器基本上看不(bu)到刺痕(hen)，不(bu)會對(dui)產品造成任何損(sun)壞pogopin探針電(dian)池測試模塊更值得(de)選擇(ze)和(he)信賴。