關于BTB/FPC母座(zuo)connector測試，目前(qian)大部份的企(qi)業、廠(chang)商采用(yong)輕觸(chu)(chu)計劃降臨時應對；運用(yong)pogo pin的廠(chang)商測試母座(zuo)時，只能接觸(chu)(chu)連接器端子頂點位置，接觸(chu)(chu)區(qu)域面積小，接觸(chu)(chu)方(fang)式為點對點，相對彈片(pian)接觸(chu)(chu)面小，易磨損及運用(yong)次數到一定(ding)的壽命后易接觸(chu)(chu)不良，招致誤測等現象。

　　pogopin是由(you)彈簧、針(zhen)管、針(zhen)軸三個(ge)根本部件預壓(ya)之后構成的彈簧式探針(zhen)；它自(zi)身由(you)幾(ji)個(ge)部件制造、裝(zhuang)配、涂裝(zhuang)而(er)成，工藝程序(xu)復雜，但(dan)運用壽命仍然(ran)不(bu)高；由(you)于pogopin自(zi)身存在的一些問題，在實(shi)踐操作針(zhen)對BTB母座connector測試時，我們理(li)解到一些廠商的實(shi)踐狀(zhuang)況：

　　1.測試不穩(wen)定，pogopin自身是多配件構造，接(jie)觸(chu)點多，易產生接(jie)觸(chu)不穩(wen)定、阻抗(kang)分歧性低等(deng)問(wen)題；

　　2.測試(shi)時(shi)(shi)探針經(jing)常性扎歪，然后需求人員(yuan)重新進行探針調整，糜費(fei)了大(da)量的(de)時(shi)(shi)間和人工本(ben)錢；

　　3.卡(ka)PIN：同樣由于由多(duo)構造組合而成(cheng)，這個在(zai)pogopin身上(shang)是防(fang)止不了的問題(ti)；

　　4.極易斷針：隨(sui)著(zhu)pitch的(de)減少，pogo的(de)針徑也越來越小，使得(de)探針的(de)斷針風險逐(zhu)步(bu)增加；

　　5.運用壽(shou)(shou)命(ming)很短：探針的運用壽(shou)(shou)命(ming)均在30000次以下，并容(rong)易(yi)磨損，運用次數到一定的壽(shou)(shou)命(ming)后易(yi)招致接觸不良、誤測等現象；

　　以上(shang)狀(zhuang)況相對呈現率較高，針對以上(shang)的(de)狀(zhuang)況，自然(ran)導致企業本錢的(de)增加，測試穩定(ding)性差(cha)，良(liang)品(pin)率低等問題。

　　針(zhen)對(dui)以上運(yun)用pogo測試BTB母座connector，下面(mian)(mian)簡單(dan)引(yin)見幾個(ge)方(fang)面(mian)(mian)：

　　1.彈片(pian)微針(zhen)模組有一(yi)體(ti)成型，后(hou)期加硬(ying)鍍金處置，接觸(chu)外形（可定(ding)制(zhi)化）很容(rong)易依照客戶請求(qiu)制(zhi)造(zao)(zao)；彈片(pian)為一(yi)體(ti)化構造(zao)(zao)，減少了接觸(chu)點，防止產生接觸(chu)不穩定(ding)、阻抗(kang)分歧性低等(deng)問題(ti)；

　　2.在測(ce)(ce)試(shi)(shi)母座時，彈(dan)片頭部(bu)插入連(lian)(lian)接(jie)器內端(duan)子(zi)，使(shi)其(qi)產(chan)生一(yi)定(ding)的張開量，這(zhe)樣能夠保(bao)(bao)障彈(dan)片接(jie)觸(chu)(chu)面與BTB連(lian)(lian)接(jie)器端(duan)子(zi)兩面不斷堅持接(jie)觸(chu)(chu)狀態(tai)；測(ce)(ce)試(shi)(shi)公座時，鋸(ju)齒(chi)型彈(dan)片大面積充沛和連(lian)(lian)接(jie)器接(jie)觸(chu)(chu)點接(jie)觸(chu)(chu)，保(bao)(bao)障測(ce)(ce)試(shi)(shi)穩(wen)定(ding)；

　　3.電傳播導于同一資料體內，電阻恒定，簡直沒有(you)電流衰減，具有(you)更好的銜接功用，額定電流為3A；

　　4.由于一體成型，完整(zheng)不會呈(cheng)現卡pin現象，并(bing)且運用壽命(ming)能到達(da)30萬次以(yi)上；

　　5.測試母(mu)座時，定(ding)制的斜口性彈(dan)片的頭部插入(ru)BTB連(lian)接(jie)器內彈(dan)片啟齒之間，對(dui)BTB連(lian)接(jie)器彈(dan)片產生一定(ding)的張開量，微針模組彈(dan)片接(jie)觸(chu)面與BTB連(lian)接(jie)器彈(dan)片兩面不斷堅持(chi)接(jie)觸(chu)狀態，微針模組彈(dan)片頭型自(zi)清潔設計免維(wei)護保(bao)障(zhang)長(chang)期穩(wen)定(ding)性；

　　6.一體式設(she)計，準確(que)度高，完(wan)整不會呈現扎歪的問題(ti)；

　　7.大電流BTB彈片(pian)微針模(mo)組(zu)的測試良(liang)率能到達(da)99.5%；

　　8.能更(geng)好的應對(dui)pitch≤0.2mm的范疇；

　　9.運(yun)用彈片微針(zhen)模組(zu)（blade block）在同一模組(zu)，測試(shi)前(qian)和測試(shi)20次后，連接器上根(gen)本看不到任何扎痕；

　　針對(dui)市場上，企業運用pogopin一系列的問題，我們自主(zhu)創新的大電(dian)流BTB彈片微針模組（blade block）的處理計(ji)劃能更好的應對(dui)，協助企業儉省本錢。

　　相(xiang)較于目前市場上的(de)痛點，大電流(liu)彈片(pian)微(wei)針模組(zu)（blade block），一(yi)體成型的(de)彈片(pian)根(gen)卡pin、銜接(jie)穩定性(xing)(xing)(xing)差(cha)、斷針，接(jie)觸(chu)外形(xing)可(ke)定制化防(fang)止了產(chan)生接(jie)觸(chu)不穩定、阻抗分歧性(xing)(xing)(xing)低，能應對pitch≤0.2mm、測試效率高、穩定性(xing)(xing)(xing)高、能兼容(rong)小pitch BTB公(gong)母(mu)座穩定且(qie)牢靠(kao)、能接(jie)受的(de)頂點為50A大電流(liu)、運用壽(shou)命更長、快速出(chu)樣、訂貨周期短等優(you)點。