21世紀發展的理想電(dian)源。鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)可廣泛應用(yong)于 3C 也被稱為手機、平(ping)板電(dian)腦、筆記(ji)本電(dian)腦、可穿戴設備等領域，鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)具有能(neng)(neng)量(liang)密度高(gao)、電(dian)壓高(gao)、壽命(ming)長、無記(ji)憶效(xiao)應等優點，3C鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)是容易因短路、過充等原因燒毀或爆炸，所以很危險3C鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)測試是鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)制造(zao)和組(zu)裝的重要環(huan)節，是實現鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)性(xing)能(neng)(neng)和安全靠譜使用(yong)的有力保(bao)障。3C鋰(li)(li)電(dian)池(chi)(chi)(chi)測試項目主要包括一致(zhi)性(xing)、功能(neng)(neng)性(xing)、安全性(xing)、可靠性(xing)和工況模擬。

　　3C鋰電池

　　3C鋰電池測試對電池測試模塊的選擇很重要。目前市場上廣泛使用的電池測試模塊有兩種，一種是通大電流彈片微針模組，另一種是日韓黃色視頻:pogopin探針模塊。通過比較(jiao)兩者的優缺(que)點，我們可以更直觀地區分(fen)哪一個更符合要求3C鋰電池測試要求。

　　從目前的市(shi)場趨勢來(lai)看，3C電(dian)(dian)子產品(pin)內部空間集成(cheng)度高，pitch不斷縮小，pogopin探(tan)(tan)針模(mo)(mo)組在小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩(wen)定(ding)性差。3C鋰電(dian)(dian)池測(ce)試對電(dian)(dian)流的需求很大(da)，pogopin探(tan)(tan)針模(mo)(mo)塊能承載的額定(ding)電(dian)(dian)流僅為1A，在傳輸(shu)過程中，電(dian)(dian)流會在不同位衰減，導致連接不穩(wen)定(ding)。

　　通大電流彈片微針模組

　　通大(da)電(dian)流(liu)彈片微(wei)針模(mo)組無(wu)論(lun)是面(mian)對小間(jian)距還是大(da)電(dian)流(liu)，都(dou)有(you)(you)很好的應對方法(fa)。在(zai)(zai)小pitch在(zai)(zai)該領域，大(da)電(dian)流(liu)彈片微(wei)針模(mo)塊是可取的pitch值(zhi)在(zai)(zai)0.15mm-0.4mm性能穩定(ding)可靠。面(mian)對大(da)電(dian)流(liu)測試(shi)(shi)要求，大(da)電(dian)流(liu)彈片微(wei)針模(mo)塊可通過(guo)的額定(ding)電(dian)流(liu)大(da)到(dao)50A，在(zai)(zai)1-50A電(dian)阻恒定(ding)，幾乎沒有(you)(you)電(dian)流(liu)衰減，具有(you)(you)良好的連接功能，可以(yi)很大(da)限度地保(bao)障3C鋰電(dian)池(chi)測試(shi)(shi)的穩定(ding)性。

　　pogopin探針模組

　　就使用(yong)壽命(ming)而言(yan)，pogopin探(tan)針(zhen)模(mo)塊(kuai)的試(shi)驗(yan)(yan)壽命(ming)在于5w大(da)(da)電流(liu)彈(dan)(dan)片微針(zhen)模(mo)組(zu)的試(shi)驗(yan)(yan)壽命(ming)約(yue)為(wei)20w以上，比(bi)較pogopin探(tan)針(zhen)模(mo)塊(kuai)整(zheng)整(zheng)多了四(si)倍!況且(qie)pogo pin探(tan)針(zhen)模(mo)塊(kuai)為(wei)多組(zu)件結(jie)構，生(sheng)產工藝復(fu)雜，生(sheng)產難(nan)度(du)高(gao)，交(jiao)貨期長;大(da)(da)電流(liu)彈(dan)(dan)片微針(zhen)模(mo)組(zu)是一(yi)種(zhong)集成(cheng)彈(dan)(dan)片結(jie)構，輕、扁平，可根據(ju)客戶要求定制，生(sheng)產難(nan)度(du)低，交(jiao)貨期短。相比(bi)之下，通(tong)大(da)(da)電流(liu)彈(dan)(dan)片微針(zhen)模(mo)組(zu)的成(cheng)本性能并不(bu)太高(gao)!

　　對比(bi)母(mu)(mu)座(zuo)測(ce)(ce)試(shi)(shi)良率(lv)，pogopin針對探針模(mo)塊BTB連接(jie)器(qi)母(mu)(mu)座(zuo)幾(ji)乎無法(fa)實(shi)現，穩定(ding)性極差。大部(bu)分采(cai)用觸(chu)摸方案對應，母(mu)(mu)座(zuo)測(ce)(ce)試(shi)(shi)良率(lv)不到80%;母(mu)(mu)座(zuo)上有一種特別(bie)的(de)通(tong)大電流彈片微針模(mo)組對應方法(fa)。將(jiang)斜口型(也稱尖頭型)彈片頭插入連接(jie)器(qi)內端子，以保持一定(ding)的(de)開度，從(cong)而保障(zhang)彈片的(de)接(jie)觸(chu)面(mian)和接(jie)觸(chu)面(mian)BTB連接(jie)器(qi)端子兩側保持接(jie)觸(chu)狀(zhuang)態(tai)，使測(ce)(ce)試(shi)(shi)穩定(ding)，母(mu)(mu)座(zuo)測(ce)(ce)試(shi)(shi)良率(lv)達(da)到99.8%。

　　大電流彈片微針模組測(ce)(ce)試(shi)效(xiao)率高(gao)，穩定性好。與同一產(chan)品測(ce)(ce)試(shi)前后相比(bi)，連接器基本上看不(bu)到(dao)刺痕，不(bu)會對產(chan)品造成(cheng)任(ren)何損壞(huai)pogo pin電池測(ce)(ce)試(shi)模塊更值得(de)選擇和(he)信賴。