我們常看到的一(yi)些3C產品(pin)，里面都有安(an)(an)裝(zhuang)鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)，鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)具有高能(neng)量密度、高電(dian)(dian)(dian)壓、壽命長、無(wu)記憶效應等優(you)點，是(shi)21世紀發展的理想電(dian)(dian)(dian)源。鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)可廣(guang)泛應用(yong)(yong)于 3C 也(ye)被稱為手(shou)機、平板電(dian)(dian)(dian)腦(nao)、筆記本電(dian)(dian)(dian)腦(nao)、可穿戴設備(bei)等領域3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)容易因短路、過(guo)充等原因燒毀或爆(bao)炸，所以(yi)很危險3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測試是(shi)鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)制造(zao)和組裝(zhuang)的重要環節，是(shi)實現鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)性(xing)能(neng)和安(an)(an)全(quan)靠譜使用(yong)(yong)的有力保障，3C鋰(li)(li)(li)電(dian)(dian)(dian)池(chi)(chi)測試項目主(zhu)要包(bao)括(kuo)一(yi)致性(xing)、功能(neng)性(xing)、安(an)(an)全(quan)性(xing)、靠譜性(xing)和工況(kuang)模擬。

　　3C鋰電池(chi)(chi)測試(shi)對電池(chi)(chi)測試(shi)模(mo)(mo)塊的(de)選擇(ze)很重要(yao)。目(mu)前市(shi)場上廣(guang)泛使用的(de)電池(chi)(chi)測試(shi)模(mo)(mo)塊有兩種，一(yi)種是凱(kai)智通大電流彈片微針模(mo)(mo)塊，另一(yi)種是pogo pin探針模(mo)(mo)塊。通過比(bi)較兩者(zhe)的(de)優(you)缺點，我們可以更(geng)直觀(guan)地區分哪一(yi)個更(geng)符合要(yao)求3C鋰電池(chi)(chi)測試(shi)要(yao)求。

　　從目前的市場趨勢來看，3C電子產品內部空間集成度高，pitch不斷縮小，日韓黃色視頻:pogopin探針模塊小pitch該領域適應性差，只能處理0.3mm-0.4mm之間的pitch壽命和穩定性差。3C鋰電池測試對電流的需求很大，pogopin探針模塊能承載的額定電流僅為1A，在傳輸過程中，電流會在不同位衰減，導致連接不穩定。

　　無論(lun)面(mian)對(dui)(dui)小間距(ju)還是(shi)大(da)(da)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)，大(da)(da)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)彈(dan)(dan)片微(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)都(dou)有(you)很好(hao)的(de)應對(dui)(dui)方法。pitch在該領域(yu)，大(da)(da)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)彈(dan)(dan)片微(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)是(shi)可(ke)取的(de)pitch值(zhi)在0.15mm-0.4mm性(xing)能穩定(ding)靠(kao)譜(pu)。面(mian)對(dui)(dui)大(da)(da)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)測(ce)試要求，大(da)(da)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)彈(dan)(dan)片微(wei)針(zhen)(zhen)模(mo)(mo)塊(kuai)可(ke)通(tong)過的(de)額定(ding)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)大(da)(da)到50A，在1-50A電(dian)(dian)(dian)阻恒定(ding)，幾(ji)乎(hu)沒有(you)電(dian)(dian)(dian)流(liu)(liu)衰減，具有(you)良好(hao)的(de)連接功能，可(ke)以(yi)很大(da)(da)限度地保障3C鋰電(dian)(dian)(dian)池測(ce)試的(de)穩定(ding)性(xing)。

　　就使用壽(shou)命而言，pogopin探(tan)(tan)針(zhen)模塊的試驗壽(shou)命在于5w大電(dian)流(liu)彈片微(wei)針(zhen)模塊的試驗壽(shou)命約為20w以上，比(bi)較pogopin探(tan)(tan)針(zhen)模塊整整多了(le)四倍！pogopin探(tan)(tan)針(zhen)模塊為多組件(jian)結(jie)構(gou)，生產(chan)工藝復(fu)雜(za)，生產(chan)難(nan)度高(gao)(gao)，交(jiao)貨周期長(chang)；大型電(dian)流(liu)彈片微(wei)針(zhen)模塊為一體化彈片結(jie)構(gou)，輕、扁平(ping)，可根據客戶(hu)要求定制，生產(chan)難(nan)度低(di)，交(jiao)貨周期短。相比(bi)之下，大型電(dian)流(liu)彈片微(wei)針(zhen)模塊的成本性能并不太高(gao)(gao)！

　　對(dui)(dui)比母(mu)座測試(shi)良率，pogopin探(tan)針(zhen)模(mo)組針(zhen)對(dui)(dui)BTB連接(jie)(jie)器母(mu)座幾乎(hu)無(wu)法實現，穩定性極差。大部分采用觸(chu)(chu)(chu)摸方案對(dui)(dui)應(ying)，母(mu)座測試(shi)良率不到80%；母(mu)座上有一種特別的大電流彈(dan)片(pian)微(wei)針(zhen)模(mo)塊對(dui)(dui)應(ying)方法。將斜口型(xing)（也(ye)稱尖頭型(xing)）彈(dan)片(pian)頭插入連接(jie)(jie)器內端子，以保持一定的開度(du)，從而保障彈(dan)片(pian)的接(jie)(jie)觸(chu)(chu)(chu)面和接(jie)(jie)觸(chu)(chu)(chu)面BTB連接(jie)(jie)器端子兩側保持接(jie)(jie)觸(chu)(chu)(chu)狀(zhuang)態(tai)，使測試(shi)穩定，母(mu)座測試(shi)良率高達99.8%。

　
　大電(dian)流彈片微針模(mo)塊測(ce)試效率高，穩定性好。與同一產品測(ce)試前后相比，連接器基本上(shang)看不到刺痕，不會(hui)對(dui)產品造成任(ren)何(he)損壞pogopin探針電(dian)池測(ce)試模(mo)塊更值得選擇和(he)信(xin)賴。