關于BTB/FPC母座connector測試，目前大部份的企業(ye)、廠商采用(yong)輕觸計(ji)劃降臨時應對(dui)；運(yun)(yun)用(yong)pogo pin的廠商測試母座時，只能接觸連接器端子頂點(dian)位置，接觸區域(yu)面積小，接觸方式為點(dian)對(dui)點(dian)，相對(dui)彈片接觸面小，易(yi)(yi)磨損及運(yun)(yun)用(yong)次數到一定的壽命后易(yi)(yi)接觸不良，招致(zhi)誤測等現象(xiang)。

　　pogopin是由(you)彈簧、針(zhen)(zhen)管、針(zhen)(zhen)軸三個(ge)根本(ben)部件預(yu)壓之后構成的(de)彈簧式探針(zhen)(zhen)；它自身由(you)幾(ji)個(ge)部件制造、裝(zhuang)配、涂(tu)裝(zhuang)而(er)成，工藝程序復雜，但運用壽(shou)命(ming)仍然(ran)不高(gao)；由(you)于pogopin自身存在的(de)一(yi)些(xie)問題，在實踐(jian)操作(zuo)針(zhen)(zhen)對BTB母座connector測試時(shi)，我(wo)們理解到一(yi)些(xie)廠商的(de)實踐(jian)狀況：

　　1.測試不穩定，pogopin自身是(shi)多(duo)配(pei)件(jian)構(gou)造(zao)，接(jie)觸(chu)(chu)點多(duo)，易產生接(jie)觸(chu)(chu)不穩定、阻(zu)抗分歧(qi)性低等問題；

　　2.測試時(shi)探針經常性扎歪，然后需求人員重新進行探針調整，糜費了大(da)量(liang)的(de)時(shi)間和人工本錢(qian)；

　　3.卡(ka)PIN：同樣由(you)于由(you)多構造組(zu)合而成，這個在pogopin身上是防(fang)止(zhi)不了的問題；

　　4.極易斷針(zhen)(zhen)：隨著pitch的減少，pogo的針(zhen)(zhen)徑也越(yue)來(lai)越(yue)小，使得探(tan)針(zhen)(zhen)的斷針(zhen)(zhen)風險逐步增(zeng)加；

　　5.運用(yong)(yong)壽(shou)(shou)命(ming)(ming)很短：探(tan)針的運用(yong)(yong)壽(shou)(shou)命(ming)(ming)均在30000次以下，并容(rong)易(yi)(yi)磨(mo)損，運用(yong)(yong)次數到一定的壽(shou)(shou)命(ming)(ming)后易(yi)(yi)招致接觸(chu)不良(liang)、誤測等現(xian)象；

　　以上(shang)狀況相對呈現(xian)率(lv)較高，針對以上(shang)的狀況，自然導致企業本(ben)錢的增加(jia)，測試穩(wen)定性差，良品(pin)率(lv)低等問題。

　　針對(dui)以上(shang)運用pogo測試BTB母座connector，下面簡單引見幾個方(fang)面：

　　1.彈片微(wei)針模組有一體成型(xing)，后期加硬(ying)鍍金處置，接(jie)(jie)觸(chu)外形（可定(ding)制化(hua)(hua)）很容(rong)易依照(zhao)客(ke)戶(hu)請求制造；彈片為一體化(hua)(hua)構造，減(jian)少了接(jie)(jie)觸(chu)點，防(fang)止(zhi)產生接(jie)(jie)觸(chu)不穩定(ding)、阻(zu)抗分(fen)歧性低(di)等問題；

　　2.在測試(shi)(shi)母座時，彈片頭(tou)部插入(ru)連(lian)接(jie)(jie)器內(nei)端(duan)(duan)子(zi)，使其產(chan)生一(yi)定的(de)張開量，這樣能夠保障彈片接(jie)(jie)觸(chu)(chu)面與BTB連(lian)接(jie)(jie)器端(duan)(duan)子(zi)兩面不斷堅持接(jie)(jie)觸(chu)(chu)狀態(tai)；測試(shi)(shi)公座時，鋸齒型(xing)彈片大(da)面積充沛和連(lian)接(jie)(jie)器接(jie)(jie)觸(chu)(chu)點接(jie)(jie)觸(chu)(chu)，保障測試(shi)(shi)穩定；

　　3.電(dian)傳播導(dao)于同一(yi)資料(liao)體(ti)內，電(dian)阻(zu)恒定，簡直沒有電(dian)流(liu)衰減，具(ju)有更好的銜(xian)接(jie)功(gong)用，額定電(dian)流(liu)為(wei)3A；

　　4.由于一(yi)體成型，完整不會呈現卡(ka)pin現象(xiang)，并且運用壽命(ming)能到達(da)30萬次(ci)以上(shang)；

　　5.測試母座時(shi)，定制的(de)斜口性(xing)彈(dan)(dan)(dan)片(pian)的(de)頭部(bu)插入BTB連(lian)(lian)接器(qi)內彈(dan)(dan)(dan)片(pian)啟齒(chi)之(zhi)間，對BTB連(lian)(lian)接器(qi)彈(dan)(dan)(dan)片(pian)產(chan)生(sheng)一定的(de)張開量，微針模組彈(dan)(dan)(dan)片(pian)接觸(chu)面與BTB連(lian)(lian)接器(qi)彈(dan)(dan)(dan)片(pian)兩面不斷堅持接觸(chu)狀(zhuang)態，微針模組彈(dan)(dan)(dan)片(pian)頭型自(zi)清潔設(she)計(ji)免維護保障長期穩(wen)定性(xing)；

　　6.一體式(shi)設計，準確度高，完(wan)整不會呈現扎歪的問題；

　　7.大電流(liu)BTB彈片微(wei)針模(mo)組(zu)的(de)測試良率能到(dao)達(da)99.5%；

　　8.能(neng)更好的應對(dui)pitch≤0.2mm的范疇；

　　9.運用彈片微(wei)針(zhen)模組（blade block）在同一模組，測試前和測試20次后，連接器上(shang)根本看(kan)不(bu)到任何(he)扎痕(hen)；

　　針對(dui)(dui)市場上(shang)，企(qi)業運用pogopin一系列的問題，我們自主創新(xin)的大電流BTB彈(dan)片微針模組（blade block）的處理(li)計(ji)劃能更好的應對(dui)(dui)，協(xie)助企(qi)業儉(jian)省(sheng)本錢。

　　相較(jiao)于目前市場上的痛點，大電(dian)(dian)流彈片微針模(mo)組(zu)（blade block），一體成型的彈片根(gen)卡pin、銜接穩定(ding)性(xing)差(cha)、斷針，接觸(chu)外形可定(ding)制化(hua)防(fang)止了產生接觸(chu)不(bu)穩定(ding)、阻抗分(fen)歧(qi)性(xing)低，能應(ying)對pitch≤0.2mm、測(ce)試(shi)效率(lv)高、穩定(ding)性(xing)高、能兼容小pitch BTB公母座穩定(ding)且牢靠、能接受的頂點為50A大電(dian)(dian)流、運(yun)用壽命更(geng)長、快速出樣、訂貨(huo)周期短等(deng)優點。